半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种-云南自考网

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云南自考网> 试题题库列表页> 半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于【】12-329

2013年7月质量管理试卷真题

卷面总分：100分试卷年份：2013 是否有答案：有作答时间： 150分钟

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试题序号

18

半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于【】12-329

A、可靠性测定试验
B、可靠性鉴定试验
C、可靠性验收实验
D、环境应力筛选试验

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组织的核心过程包括设计过程和【】6-141

A、生产提供过程
B、支持过程
C、供应和合作过程
D、售后服务过程

内部顾客3-62

与传统采购观点相比，现代战略采购决策的着眼点是【】9-209

A、合作的伙伴关系
B、总的占有成本
C、价格
D、符合规格

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